Estudante chinês preso por fraude em TOEIC no Japão

Tóquio, Japão, 21 de maio de 2025, Yomiuri Shimbun – Um estudante chinês de 27 anos, matriculado em um programa de pós-graduação na Universidade de Kyoto, foi preso em Tóquio sob suspeita de tentativa de fraude durante o exame de proficiência em inglês TOEIC. A polícia acredita que ele fazia parte de um esquema maior de cola em grupo, utilizando identidade falsa e equipamentos eletrônicos para repassar respostas a outros candidatos.

Segundo a polícia metropolitana, o suspeito tentou realizar o exame no bairro de Itabashi usando o documento de outro estudante e portava um pequeno microfone escondido sob a máscara facial. Ao ser abordado, ele confessou que recebeu pagamento para fazer a prova no lugar de outra pessoa enquanto buscava trabalho temporário.

O caso veio à tona após a organização do TOEIC alertar as autoridades sobre um indivíduo que estaria realizando o teste repetidas vezes sob diferentes nomes, sempre com notas acima de 90%. No dia da prisão, a polícia já estava em alerta e flagrou o estudante ao apresentar uma identidade falsa na recepção do local de prova.

As investigações apontam que cerca de 30% dos candidatos inscritos para aquela sala não compareceram ao exame, levantando suspeitas de que outros envolvidos no esquema poderiam estar aguardando respostas fornecidas pelo suspeito.

Além disso, o estudante relatou ter recebido o documento falso em uma estação de trem e que já teria participado de ações semelhantes anteriormente. As autoridades seguem investigando a possibilidade de uma rede organizada de fraude em exames de proficiência, com foco em identificar outros participantes e prevenir novos casos.

O episódio reacende o debate sobre segurança e integridade em exames internacionais no Japão, especialmente diante do aumento de tentativas de fraude envolvendo tecnologia e grupos organizados.